Российская ЭКБ класса space, часть 2

[спец]

И еще 2 полезных статьи:
1. https://habr.com/ru/articles/698176/
2. https://habr.com/ru/articles/156049/
Настоятельно рекомендую к прочтению и осознанию.

[Serge V Iz]

Многократно цитируемая работа:

DOI:10.1109/IRPS.2011.5784522
Corpus ID: 28319856
The impact of new technology on soft error rates
A. Dixit, A. Wood
Published in IEEE International... 10 April 2011
Engineering, Computer Science

С картинкой:

Вы не можете просматривать это вложение.

Это "общая тенденция" для условной одной и той же топологии.

По мнению TSMC, для м/сх динамической памяти, где высокая плотность практически независимых элементов и структура SEU-эффекта проста, сейчас даже обычный свинцовый припой достаточно радиоактивен, чтобы вызывать сбои. И необходимы всякие low-alpha lead free способы монтажа микросхем )

Это всё, разумеется, не учитывает миниатюризацию электроники с сокращением её площади, экранирование всякие sec-ded и dec-ted и т.д. Конкретные изделия из-за этих прочих факторов могут отличаться данной характеристикой от "общей тенденции" на многие порядки. )

"Слухи", скорее всего имеют ввиду показатель "частота событий на бит", которая, с уменьшением площади этого бита, естественно, снижается. )

[blik]

"Слухи", скорее всего имеют ввиду показатель "частота событий на бит", которая, с уменьшением площади этого бита, естественно, снижается. )

Конечно нужно сравнивать радиационную стойкость одинаковых или близких по функциональности/производительности чипов. 

[Serge V Iz]

"Слухи", скорее всего имеют ввиду показатель "частота событий на бит", которая, с уменьшением площади этого бита, естественно, снижается. )

Конечно нужно сравнивать радиационную стойкость одинаковых или близких по функциональности/производительности чипов.

Ну... см. последнюю колонку. (А они, массовые м/сх, будут одинаковыми, при сильно разных нормах? Нет, конечно же, по целому ряду существенных причин.  )

[blik]

Многократно цитируемая работа:

DOI:10.1109/IRPS.2011.5784522
Corpus ID: 28319856
The impact of new technology on soft error rates
A. Dixit, A. Wood
Published in IEEE International... 10 April 2011
Engineering, Computer Science

С картинкой:

С самого начала статью столкнулся вот с этим.

The Impact of New Technology on Soft Error Rates
Anand Dixit[1] and Alan Wood[2]
[1] Systems Group, [2] Oracle Labs
Oracle Corporation
Santa Clara, CA USA
[1] 408-276-6335 anand.x.dixit@oracle.com, [2] alan.wood@oracle.com
Abstract—This paper presents the impact of new microprocessor
technology on microprocessor soft error rate (SER). The results
are based on Oracle's (formerly Sun Microsystems) neutron
beam testing over the past several years. We describe how the
tests were conducted and how the test results are used to
influence microprocessor design. As microprocessor feature sizes
decreased from 180nm to 65nm, memory error rates per bit
decreased, but our data indicates a reversal of this trend at 40nm.
Flop error rates still appear to be decreasing, even at a 28nm
feature size We measure SER as a function of power supply
voltage (Vdd) over a range of 1.2V down to 0.5V, and the data
shows SER significantly increases as Vdd decreases. This result
implies that dynamic voltage frequency scaling (DVFS), a
commonly used microprocessor energy reduction technique,
could cause a significant decrease in microprocessor reliability.
The data also show that more energy-efficient transistors using
back bias technique do not appear to significantly impact
microprocessor reliability.

1. Какое отношение к электронике класса спэйс имеет тестирование на нейтронных пучках?
2. Заявлялось, что аномальное увеличение радиационной устойчивости наблюдается на техрпоцессах существенно ниже 40нм, тестируемых в статье

[pkl]

Придётся создавать рынки внутри России и дружественных ей стран.

для этого надо увеличить население этих стран на 2млрд человек минимум

Кажется, начинает получаться. 

[pkl]

Беда некоторых товарищей, что даже на фоне 16 (или сколько там уже) тысяч санкций, на фоне торговых войн США и Китая они все еще верят, что "рыночек сам порешает" главное иметь конкурентный товар и 16к санкций не помеха.Что это если не наивность.. Я понимаю, когда в это верила наивная советская интеллигенция на заре 90-х.Но говорить такое на серьезных щах в 2023 - это какой то позор.

Вообще, айфоны возят к нам в серую. Как и "индийский" газ в Европу. Рыночек как раз порешал, просто добавив несколько дополнительных звеньев в торговых цепочках. Так что, пока есть лохи, готовые платить втридорога за тот же самый товар, всё будет работать.

[Serge V Iz]

Заявлялось, что аномальное увеличение радиационной устойчивости наблюдается на техрпоцессах существенно ниже 40нм, тестируемых в статье

Уменьшение элементов, и утончение диэлектриков может давать свои эффекты, например, в стойкости к накопленной дозе (например, накопленному в диэлектрике заряду, который с вышеуказанным хуже накапливается и лучше рассасывается). Но они
а) сильно зависят от конкретных техпроцессов, и
б) не такого масштаба величины, как критический заряд (величина заряда, вызывающая переключение значения элемента)

По п. б) имеется экспоненциального характера зависимость роста SER от обратной величины критического заряда. И вот в "самых мелких" техпроцессах типа DRAM мы уже и до́жили до того, что даже бытовые субстанции (изотопы свинца из припоя) мешают работать. )